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可測品種 |
具有基(ji)本型儀器(qi)所擁有的功能外還可測(ce)定多層鎳的各層厚度以及層間電位差 |
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測(ce)量厚度范圍 |
0.03微(wei)米(mi)-99微米
電位差：-100mV~+400mV |
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準(zhun)確度（測量誤差） |
厚度(du)正(zheng)負10% 電位差正負5% |
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復現精度（差異率） |
<5% |
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測量值表示 |
除了(le)擁有基(ji)本型的數碼顯示，打印功能外，還配備(bei)繪(hui)畫儀，測(ce)量時自動繪(hui)制(zhi)出電位差（X軸單位為mV）和厚度（Y軸，單位為um）的(de)直(zhi)角坐標系上的(de)比例曲線。 |
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標(biao)準測量(liang)面積 |
A橡皮墊(dian)圈：Φ2.5mm
B 橡(xiang)皮(pi)墊圈：Φ1.7mm |
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性能特點 |
操(cao)作(zuo)簡便，復現(xian)性好，可測量(liang)單層，復合層電鍍，具有內置電腦芯片，經過芯片處理后，能直觀顯(xian)示(shi)各(ge)層厚(hou)度以及電位差 |
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配置標(biao)準 |
主機（含內置(zhi)微(wei)型打(da)印機）pp40智能四色(se)繪圖儀，電解池，有機測(ce)量架1，有機測量架2，橡皮墊(dian)圈(quan)，標準(zhun)樣板，打印紙以及支架，試劑瓶(ping)等。
與普(pu)(pu)通(tong)電腦連接(jie)的(de)接(jie)口，連接(jie)線，可安(an)裝入普(pu)(pu)通(tong)電腦的(de)全套測量用軟件(jian)。 |
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電腦接口配(pei)置(zhi) |
除(chu)具有電(dian)腦基本型(xing)(xing)的功能外(wai)，多層鎳(nie)型(xing)(xing)還(huan)可(ke)以在普通電(dian)腦上即時(shi)顯示(shi)點位差曲(qu)線(xian)(xian)，并自(zi)動對曲(qu)線(xian)(xian)進行分析。測量(liang)數(shu)據(ju)，電(dian)位差曲(qu)線(xian)(xian)以及曲(qu)線(xian)(xian)的分析結果都會自(zi)動保存在數(shu)據(ju)庫內，隨(sui)時(shi)打印。配備的繪圖(tu)儀給(gei)無電(dian)腦的環(huan)境(jing)下的使(shi)用帶來(lai)方便。 |